产品简介
NE-RE08是一款干法等离子去胶设备,适用于4/6/8英寸晶圆光刻胶去除和灰化工艺。设备采用高密度RIE等离子体刻蚀系统,具有去胶速率快、均匀性好、选择比高、不错的各向异性等性能优势。
产品特点:1、设备采用RIE反应离子刻蚀模式,去胶速率快。2、全面积工艺气体入口喷淋头,径向(轴对称)抽气结构,确保能提升工艺均匀性和速率。3、水冷电极冷却系统实现衬底温度控制。4、直开式设计方便快速装卸圆。
主要用途:1、用于8寸及以下的晶圆(SOI、SI、玻璃、铜片等其他半导体材料)正性及负性光刻胶去胶。2、聚酰亚胺光刻胶(PI)去胶。3、有机物去除。4、光刻工艺后,PR Descum 打底膜工艺
5、基片表面等离子活化(02\Ar)
产品参数
型号 | NE-RE08 |
等离子发生器 | 13.56MHz/600W |
工作台尺寸 | Φ300mm(11.8inch) |
适用晶片尺寸 | 8寸及以下 |
刻蚀模式 | RIE |
均匀性 | ± 5% |
反应气体 | 标准配置2路,最大可配置4路。 O2、Ar、N2,CF4,Cl2等气体 |
电极冷却方式 | 水冷 |
气体流量控制 | 0-500sccm |
外形尺寸 | W1100×D1100×H1650(mm) |
电源 | AC220V,50/60Hz |
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